公益財団法人JKA補助事業（整備機器・共同研究）の紹介

【2023年11月7日】2023年度 整備機器を更新しました。

公益財団法人JKA 競輪・オートレース補助事業ホームページ
    

2023年度 整備機器

2023年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）を利用して整備した機器についてご紹介します。

顕微ラマン分光光度計 

以下の機器を新規導入いたしました。詳細は下記問い合わせ先までご連絡ください。

• 機器利用 顕微ラマン分光光度計
• 依頼試験 顕微ラマン分光光度計による分析 試料分析
• 依頼試験 顕微ラマン分光光度計による分析 イメージング

【連絡先】
材料技術・事業化支援室 化学技術担当
電話：048-265-1380 E-mail：sien@saitec.pref.saitama.jp

メーカー 型式	サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 DXR3xi
装置概要	試料にレーザー光を照射して発生する微弱な光(ラマン散乱光)を利用して、有機・無機化合物の結合状態を分析する装置です。
主な仕様	【レーザー】532nm、785nm 【測定波数範囲】50-3400cm-1 【スペクトルピクセル分解能】1cm-1 【空間分解能】XY < 0.5μm、Z <2μm イメージング測定、ライブラリー検索対応
装置写真

2022年度 整備機器

2022年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）を利用して整備した機器についてご紹介します。

高精度万能材料試験機（300kN）

以下の機器の利用を開始いたしました。ご利用にあたっての詳しい情報は依頼試験・機器利用の個別ページをご覧ください。

• 依頼試験  高精度万能材料試験機による強度試験 300kNの試験機によるもの
• 機器利用  高精度万能材料試験機（300kN）

【連絡先】
材料技術・事業化支援室 材料技術担当
電話：048-265-1369 E-mail：sien@saitec.pref.saitama.jp

メーカー 型式	株式会社島津製作所 AGX-300kNV
装置概要	主に金属材料等の強度試験に用いられる装置です。治具を付け替えることで、引張試験、曲げ試験、圧縮試験が可能です。
主な仕様	【最大負荷容量】300kN 【試験力測定精度】表示試験力の±0.5%以内 【クロスヘッド速度範囲】0.00005～720mm/min 【有効試験幅】600mm ※ビデオ式非接触伸び幅計を付属
装置写真

2021年度 整備機器

2021年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）を利用して整備した機器についてご紹介します。

画像解析付粒度分布測定装置 

以下の機器の利用を開始いたしました。ご利用にあたっての詳しい情報は依頼試験・機器利用の個別ページをご覧ください。

• 依頼試験  粒度分布試験（レーザー回折法によるもの）
• 機器利用  画像解析付粒度分布測定装置

【連絡先】
材料技術・事業化支援室 材料技術担当
電話：048-265-1369 E-mail：sien@saitec.pref.saitama.jp

メーカー 型式	マイクロトラック・ベル株式会社 SYNC-ST01
装置概要	本装置は、試料にレーザーを照射し、回折・散乱パターンを測定することで、粒子群の粒度分布を測定する装置です。少量の試料を短時間で測定可能であり、乾燥粉末やコロイド状試料、水溶性試料など測定可能な試料状態も多岐にわたるため、幅広い分野で活用可能です。また、画像解析機能を使用することで、試料形状の情報も得られます。
主な仕様	【測定粒径範囲】 0.02～2000μm（画像解析：5～2000μm） 【測定原理】 レーザ回折・散乱方式、動的画像解析式 【測定方式】 湿式測定、乾式測定
装置写真	装置全体		画像解析付粒度分布測定装置 本体	蒸留水製造装置

2020年度 整備機器

2020年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）を利用して整備した機器についてご紹介します。

炭素硫黄分析装置

以下の機器の利用を開始いたしました。ご利用にあたっての詳しい情報は依頼試験・機器利用の個別ページをご覧ください。

• 依頼試験  炭素・硫黄分析装置による定量分析
• 機器利用  炭素・硫黄分析装置

【連絡先】
材料技術・事業化支援室 化学技術担当
電話：048-265-1380 E-mail：sien@saitec.pref.saitama.jp

メーカー 型式	株式会社堀場製作所 EMIA-Expert
装置概要	本装置は、試料を高周波加熱で燃焼させて発生したガス量を測定することにより、試料中の炭素及び硫黄の含有量を分析する装置です。複雑な前処理を行うことなく、鉄鋼をはじめ、非鉄金属、各種合金に含まれる炭素と硫黄の量を短時間・高精度で分析できます。
主な仕様	【分析範囲】 炭素：0.6ppm ～ 10％ 硫黄：0.6ppm ～ 1% 【分析原理】 酸素気流中 高周波加熱燃焼-赤外線吸収法 【測定時間】 約60秒（試料及び条件により異なります）
装置写真

2019年度 整備機器

2019年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）を利用して整備した機器についてご紹介します。

波長分散型蛍光X線分析装置

以下の機器の利用を開始いたしました。ご利用にあたっての詳しい情報は依頼試験・機器利用の個別ページをご覧ください。

• 依頼試験  波長分散型蛍光X線分析装置による分析 定性分析
• 依頼試験  波長分散型蛍光X線分析装置による分析 定量分析
• 依頼試験  波長分散型蛍光X線分析装置による分析 全元素測定
• 機器利用  波長分散型蛍光X線分析装置

【連絡先】
技術支援室 化学技術担当
電話：048-265-1380 E-mail：sien@saitec.pref.saitama.jp

メーカー 型式	株式会社リガク ZSX Primus IV
装置概要	本装置は、試料にX線を照射し、観測される蛍光X線の波長と強度を測定することで、構成元素と含有量を分析する装置です。複雑な前処理なしに測定でき、金属製品をはじめ多くの製造業における製品開発・評価、異物等不具合案件の分析・解析等で利用が可能です。
主な仕様	【分析元素範囲】4Be ～ 92U 【測定径】φ0.5、1、10、20、30、35mm 【照射方式】上面照射型
装置写真

平成30年度 共同研究

平成30年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所等が主体的に取組む共同研究補助事業」（オートレースの補助金）を利用して実施した研究についてご紹介します。

普及型水蒸気透過度測定装置の開発

概要

水蒸気透過度測定のカップ秤量作業を自動化した、安価かつ短時間測定可能な測定装置を開発した。カップ法の測定下限値といわれる1 g/(m²・24h)のポリテトラフルオロエチレンフィルムを測定したところ、従来の手作業による測定値とおおむね一致した値が得られ、さらに従来法では測定に24日を要したが本装置はこれを4日で測定可能とした。

研究報告 概要（普及型水蒸気透過度測定装置の開発）（PDF：225KB） 

 平成30年度 整備機器

平成30年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）を利用して整備した機器についてご紹介します。

FT-NMR装置

以下の機器の利用を開始いたしました。ご利用にあたっての詳しい情報は依頼試験・機器利用の個別ページをご覧ください。

• 依頼試験  FT-NMR装置による分析 液体試料測定
• 依頼試験  FT-NMR装置による分析 固体試料測定
• 機器利用  FT-NMR装置

【連絡先】
技術支援室 化学技術担当
電話：048-265-1380 E-mail：sien@saitec.pref.saitama.jp

メーカー 型式	Bruker BioSpin社 AVANCE NEO 500
装置概要	主として分子構造などを解析するために、化学薬品などを測定する機器です。溶液・固体を問わず、有機低分子、天然物、無機材料、高分子化合物などが測定できます。化学原料や合成開発品の確認試験、不純物の構造推定など、化成品の評価に役立ちます。
主な仕様	【磁場強度】11.74T（1H共鳴周波数 500MHz） 【検出核（液体試料）】1H/19F-199Hg,17O-109Ag 【検出核（固体試料）】1H,19F/31P-15N 【測定対象】液体・半固体・固体
装置写真	装置全体	超電導磁石	分光計

平成29年度 共同研究

平成29年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所等が主体的に取組む共同研究補助事業」（オートレースの補助金）を利用して実施した研究についてご紹介します。

電気化学プロファイルを利用した迅速・簡便な小型水質評価システムの開発

概要

微分パルスボルタンメトリで得られる電気化学プロファイルのパターン評価による新規な水質評価解析システムの構築を目指している。適用分野の一例として、飲料デイスペンサーやカップ式飲料自販機の設備管理を目的に、15分に1検体のペースで計測可能な、携帯型水質評価装置を試作した。電極、計測条件、検体前処理方法などについて検討し、各種飲料に含まれる有機酸類や糖類を指標として飲料水の種類判別や濃度評価を可能とした。

研究報告（電気化学プロファイルを利用した迅速・簡便な小型水質評価システムの開発）

平成29年度 整備機器

平成29年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）を利用して整備した機器についてご紹介します。

電磁波試験測定装置（EMS）

以下の機器の利用を開始いたしました。利用料金は下記のとおりとなります。

• 【機器利用】電波暗室電磁波試験測定装置
• 【依頼試験】電波暗室を使用する測定

【連絡先】
技術支援室 電気・電子技術担当
電話：048-265-1421
E-mail sien@saitec.pref.saitama.jp

主な 用途	IEC 60601-1-2：2014 第4版 IEC61000-4-3 放射イミュニティ試験対応 試作機器・開発製品のEMC試験、電磁波対策 電子機器の放射無線電磁界の耐性確認
装置概要	本試験器は医用電気機器のEMCに関する国際規格にて義務付けられている周波数80MHz～6GHzにも対応した、放射無線周波電磁界イミュニティ試験装置です。 電子機器が受けるノイズの影響や電磁波の耐性を確認することが可能となります。
仕様	対応規格：IEC 60601-1-2：2014 第4版、IEC61000-4-3 対応周波数：80MHz～6GHz 対応電磁界強度：1～10V/m
利用対象	依頼試験・機器開放

平成28年度 共同研究

平成28年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所等における共同研究補助事業」（オートレースの補助金）を利用して実施した研究についてご紹介します。

新機構を用いた超高分解能リニアモータの実用化に関する研究

概要

近年のハイテク機器用部品の生産技術やナノテクノロジー研究開発の進展にともない、
ナノメータ位置制御の必要性はますます高まっている。
このような中、高分解能かつ小型化に有利なピエゾ素子がますます重要となっており、高付加価値製品を生み出す製造・検査・分析機器には 欠かせない存在となっている。ピエゾ素子を使った、ストロークを大きくする技術としてインパクトドライブモータがあるが、このモータは仕組み上大きな推力を得ることができないため、利用用途を限定する要因となり普及の足かせとなっている。そこで、大きな発生力をダイレクトに推力とする新しい機構のリニアモータを開発し、実用化をにらんだ簡素・コンパクトな実用的超精密位置決め用のリニアモータを開発する。

研究報告（新機構を用いた超高分解能リニアモータの実用化に関する研究）

平成28年度 整備機器

平成28年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）を利用して整備した機器についてご紹介します。

インクジェット式カラー積層造形装置（3Dプリンタ）

以下の機器の利用を開始いたしました。利用料金は下記のとおりとなります。

【機器開放】インクジェット式カラー積層造形装置

※上記機器利用料のほか、造形に必要な樹脂消耗品費や、職員の運用に関する費用が別途かかります。また、造形にかかる費用や日数は、ご依頼の内容により異なります。
詳しくは下記担当にお問い合わせください。

【連絡先】
技術支援室  機械技術担当
電話：048-265-1376
E-mail sien@saitec.pref.saitama.jp

メーカー 型式	Stratasys社 Objet260 Connex3
装置概要	本装置は、3種類のモデル材料をミックスして一度に造形ができる3Dプリンタです。カラー（シアン、マゼンダ、イエロー）、ゴムライク、透明、PP、耐熱、硬質のモデル材から3種類をミックスさせ、硬さや透明度、彩度、物性の異なる材料を再現できます。 最終製品により近い試作モデルの製作をすることで、開発プロセスの短縮に貢献します。
仕様	【造形モデル材】 硬質樹脂、PPライク樹脂、カラー樹脂、透明樹脂、ゴムライク樹脂、ABSライク樹脂 【造形サイズ】 (X)255mm×(Y)252mm×(Z)200mm 【造形解像度】 X軸：600dpi Y軸：600dpi Z軸：1600dpi 【造形ピッチ（Z軸）】 16μm(HQモード) 30μm(HSモード,DMモード)
利用対象	機器開放

平成27年度 共同研究

平成27年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所等における共同研究補助事業」（オートレースの補助金）を利用して実施した研究についてご紹介します。

普及型超微小硬さ測定機の開発

概要

薄膜の機械的評価は、超微小硬さ測定が最も有効であると言われている。
近年、薄膜の高度化・高機能化によりますますの薄膜化が進み、それに伴い超微小硬さ測定機に求められるスペックもより高いものが要求されていて、高価な測定機となってしまっている。このため薄膜を開発する企業には、中小企業はもとより、大手企業においても、開発や品質管理において十分な台数の超微小硬さ測定機を確保することは困難である。そこで、従来機を大幅にコストダウンする「普及型超微小硬さ測定機」を開発する。

研究報告（普及型超微小硬さ測定機の開発）

平成27年度 整備機器

平成27年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）を利用して整備した機器についてご紹介します。

全焦点三次元形状測定機（非接触微細三次元測定機）

以下の機器を北部研究所（熊谷）に導入しました。
ご利用にあたっての詳しい情報は依頼試験料金表（全焦点三次元形状測定機による測定）及び機器開放料金表（全焦点三次元形状測定機）をご覧ください。

メーカー 型式	アリコナイメージング社 インフィニートフォーカスG5
装置概要	本装置は、光学系のZ軸を走査しながらイメージセンサで連続して画像を取り込み、各ピクセル毎の焦点が合った像を合成して三次元画像を作成します。寸法、形状などの二次元、三次元解析をはじめ、エリア粗さ解析、差分形状解析などの高度な解析も可能です。また、複数の画像面をつなぎ合わせるステッチング測定や、回転ユニットを利用した全周測定も可能です。
仕様	【測定原理】 焦点移動法にもとづく光学式非接触3次元測定方式 【対物レンズ倍率】 ×2.5～×100倍 【最大試料寸法】 高さ：100mm 重量：20kg（鏡面、透明体は不可） 【ストローク】 X軸：100mm Y軸：100mm Z軸：100mm 【水平分解能】7.04～0.44µm 【垂直分解能】2300～10nm 【視野範囲】 5.63×5.63平方ミリメートル～0.16×0.16平方ミリメートル
利用対象	依頼試験・機器開放

平成26年度 整備機器

平成26年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）を利用して整備した機器についてご紹介します。

X線マイクロアナライザ(分析走査電子顕微鏡)

以下の仕様の機器を北部研究所（熊谷）に導入します。ご利用は、平成27年1月から順次開始いたします。
【依頼試験】

• 分析走査電子顕微鏡(SEM-EDX)による定性分析
• 分析走査電子顕微鏡(SEM-EDX)によるマッピング分析

【機器開放】

• X線マイクロアナライザ（分析走査電子顕微鏡）（熊谷）

メーカー 型式	日本電子株式会社 JSM-IT300LA
装置概要	本装置は、試料表面の拡大像を観察したり未知物質を分析する装置です。 真空中で試料表面に電子ビームを照射し、試料から出てくる二次電子や反射電子及び特性X線などを測定することで、物質の表面形状や構成元素などを非破壊で観察及び分析することができます。 また、低真空モードに切り替えることにより、これまで観察が難しかった導電性の無い試料も観察することができます。 直径100mmを超える大型の試料にも対応可能なので、さまざまな大きさのサンプルを観察することができます。
仕様	【電子銃】 Wフィラメント 完全自動、手動調整可能 【倍率】×5～×300,000倍 【最大試料寸法（ロードロックチャンバー室寸法）】 120mm幅、25mm高 【低真空圧力設定範囲】 10～650Pa 【分析検出器】 エネルギー分散型X線分析装置 【検出可能元素】Be～U
活用事例	金属の表面観察、破損、腐食生成物及び付着物等の解析、評価 プラスチック類の表面観察、付着物等の解析、評価
利用対象	依頼試験・機器開放

平成25年度 整備機器

平成25年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）を利用して整備した機器についてご紹介します。

X線マイクロアナライザ(分析走査型電子顕微鏡)

依頼試験「X線マイクロアナライザ(走査型電子顕微鏡)による試験」で使用する装置について、以下の機器を追加導入しました。
機器開放利用については「X線マイクロアナライザ(分析走査型電子顕微鏡)（※分析装置としてのご利用の場合）」をご覧ください。

メーカー 型式	株式会社日立ハイテクノロジーズ SU3500
装置概要	本装置は、試料表面の拡大像を観察したり未知物質を分析する装置です。 真空中で試料表面に電子ビームを照射し、試料から出てくる二次電子や反射電子及び特性X線などを測定することで、物質の表面形状や構成元素などを非破壊で観察及び分析することができます。
仕様	【電子銃】 Wフィラメント 【倍率】 ×5～×300,000倍 【最大試料サイズ】 直径200mm、高さ80mm 【低真空度設定】 6～650Pa 【EDX】 株式会社堀場製作所 X-Max20、EX-370
利用対象	依頼試験・機器開放

三次元測定機

依頼試験「長さ測定」「3次元測定機による測定」で使用する装置について、以下の機器を追加導入しました。
機器開放利用については「三次元測定機」をご覧ください。

メーカー 型式	カールツァイス ACCURA-IIaktiv 9/16/8
装置概要	本装置は測定物の寸法、形状や図面とのズレ量等を非常に高い精度で測定・評価する装置です。 従来型の接触式センサに加えて、非接触ラインレーザセンサを持つことで、製品全体の三次元形状データ取得や、設計データからのズレ量を測定することができます。また、大型の測定テーブルを持ち、長さが1mを超えるような大きな製品の測定が可能です。
仕様	【測定範囲】 (X,Y,Z)：900×1600×800mm 【測定精度】 1.6+L/350[μm] （自動回転式プローブヘッド使用時、L(mm)は測定長さ）
利用対象	依頼試験・機器開放

平成24年度 整備機器

平成24年度に、財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）を利用して整備した機器についてご紹介します。

X線回折装置

依頼試験「X線回折装置による分析」で使用する装置について、以下の機器を導入しました。

メーカー 型式	株式会社リガク SmartLab(9kW)-RPA
装置概要	本装置は試料にX線を照射し、相互作用により放射された回折X線の方向と強度を解析することにより、物質内部の結晶構造や結晶性及び配向性等を解析するものです。 本装置導入により従来機能に加えて、微小部および薄膜の結晶構造等の解析並びにナノ粒子の粒径分布の測定も可能となります。
仕様	【出力】45kV、200mA(9kW) 【ターゲット】銅 【ゴニオメータ半径】300mm 【光学系】集中法、平行ビーム、透過小角散乱、微小部、インプレーン光学系及びヨハンソン型結晶によるKα1光学系
利用対象	依頼試験

平成23年度 整備機器

平成23年度に、財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）を利用して整備した機器についてご紹介します。

顕微赤外分光分析装置

依頼試験「赤外分光光度計による分析」「赤外分光光度計によるイメージング測定」で使用する装置について、以下の機器を導入しました。

メーカー 型式	サーモフィッシャー サイエンティフィック(株） Nicolet iN10 MX / iz10
装置概要	プラスチックを中心とした有機物の定性分析を行う装置です。数μm程度の微小異物の分析も可能です。
仕様	【測定領域】 7800～350cm-1（FT-IR） 7800～650cm-1（顕微FT-IR） 【測定法】透過法、反射法、ATR法
利用対象	依頼試験

電磁波試験測定装置

電波暗室電磁波試験測定装置、電磁波障害対策室電磁波試験測定装置、シールドルーム電磁波試験測定装置で使用する装置について、以下の機器を追加導入しました。この追加導入により、定期点検や故障等による休止期間を大幅に短縮できます。

メーカー ／型式	EMIレシーバ：アジレント・テクノロジー株式会社／N9038A-508 擬似電源回路網：シュワルツベック／NSLK8126 プリアンプ：SONOMA／310N
装置概要	CISPR16-1-1(2010)に適合したEMC試験装置です。放射エミッション測定、伝導エミッション測定などを行います。
仕様	放射エミッション測定：150kHz～6GHz 伝導エミッション測定：9kHz～30MHz 検波器：PK、QPK、CISPR-AVG、CISPR-RMS
利用対象	依頼試験・機器開放

恒温恒湿槽

以下の仕様の機器を平成23年11月に導入いたしました。本所（川口）にある恒温恒湿槽の1台を下記の機器と入れ換えました。

メーカー 型式	エスペック株式会社 PL-2KPH（180℃仕様）
装置概要	槽内の温度と湿度を（設定可能な範囲内で）任意に設定することができる機器です。これにより、工業製品等の温度、湿度による品質評価試験を行うことができます。
仕様	内法寸法：W500×H750×D600mm 温度範囲：-40～＋180℃ 湿度範囲：20～98％RH 温湿度制御機能を有し、連続運転、タイマー運転及び各種試験パターンをプログラム運転できます。 試験データを外部メモリ等に保存できるようになりました。 （詳しくはお問い合わせください）
利用対象	機器開放

平成22年度 整備機器

三次元測定機（開放機器名：高精度三次元測定機（熊谷））

メーカー 型式	株式会社ミツトヨ LEGEX776
装置概要	自動車や家電製品の金型や、エンジンのシリンダーブロック等立体・複雑形状の機械部品などの寸法や形状を精密に測定できる。そのほか、CADデータを元にした製品の形状誤差評価や、一般的幾何公差及び形状の測定（真円度、平面度、真直度、円筒度、輪郭度等）が可能。歯車の測定評価も可能。
仕様	測定範囲(X,Y,Z)：710×710×580mm 測定精度：MPEE:0.35+L(mm)/1,000[μm] MPEP:0.45μm
利用対象	機器開放、依頼試験

表面粗さ・輪郭形状測定機（熊谷）

メーカー 型式	株式会社東京精密 サーフコム2900DX3-25
装置概要	検出器を交換し、表面粗さ測定機または輪郭形状測定機として使用する測定機。 表面粗さ測定機能;ダイヤモンド触針で測定面の微細形状をトレースし、表面粗さパラメータを算出する。微細形状測定も可能。 輪郭形状測定機能;触針で測定物の輪郭形状を記録し、寸法や角度などの幾何形状の解析が可能。そのほか、設計値照合や非球面形状解析・照合も可能。
仕様	共通;測定範囲 X軸:200mm/コラム上下移動量:600mm 表面粗さ測定;Z軸測定範囲:1mm 輪郭形状測定;Z軸測定範囲:50mm/指示精度:±(0.8+｜2H｜/100)[μm] H=測定高さ(mm)
利用対象	機器開放、依頼試験

画像測定機（熊谷）

メーカー 型式	株式会社ニコン Nexiv VMR-H3030（タイプ2,カラー）
装置概要	XY軸は画像処理、Z軸は画像またはレーザーオートフォーカスを用いて、測定物の寸法や形状を非接触で測定する装置。
仕様	測定範囲(X,Y,Z)：300×300×150mm 測定精度(X,Y1軸)：0.6+2L/1000[μm] 測定精度(Z1軸レーザー)：0.9+L/150[μm] L=測定長さ(mm)
利用対象	機器開放、依頼試験

複合サイクル試験機

メーカー 型式	スガ試験機株式会社 CYP-90
装置概要	金属材料等の素材や無機皮膜・有機皮膜等で表面処理した試験片・製品などを過酷な条件で試験を行い、短期間で耐食性の評価を行う。
仕様	試験槽内寸法（幅×奥行×高）：90cm×60cm×50cm 試験サイクル：塩水噴霧、乾燥、湿潤、外気導入の試験状態を設定可能
利用対象	機器開放、依頼試験

平成21年度 整備機器

冷熱衝撃試験機（熊谷）

メーカー 型式	エスペック株式会社 TSA-101L-A
装置概要	急冷・急加熱により熱ストレスを与え試料の評価を行う。鉛フリーはんだの接合評価、プリント基板や実装基板の評価、車載機器の耐久試験、樹脂材料や成形品の耐久試験。
仕様	炉内寸法：W650×H460×D370 試験温度：-65～0、60～200℃ 注）試験記録は電子データでの出力のため必要に応じUSBメモリを持参して下さい。
利用対象	機器開放

三次元造形装置（開放機器名：インクジェット式積層造形装置）

メーカー 型式	Objet Geometries EDEN250
装置概要	切削工法では困難な自由曲面やアンダーカットなどを持つ3次元複雑形状を実体化（造形）することができる装置。 試作品、モックアップ、形状確認用模型など。
仕様	最大造形サイズ（X：240mm、Y：254mm、Z：200mm） 積層ピッチ 16μm
利用対象	機器開放

万能材料試験機(300kN）（熊谷）

メーカー 型式	株式会社島津製作所 AG-300kNX
装置概要	引張り・圧縮・3点曲げの強度試験を行う。
仕様	負荷容量 300kN（引張・圧縮）等級 0.5級 試験速度 0.0005～250mm/min 有効試験幅 595mm 有効引張ストローク：571mm ＊詳細はお問い合わせ下さい。
利用対象	機器開放・依頼試験

画像測定機

メーカー 型式	株式会社ニコン NEXIV VMR-6555
装置概要	XY軸は画像処理、Z軸は画像及びレーザーオートフォーカスを用いて、測定物の寸法や形状を非接触で測定する装置。
仕様	測定範囲(X,Y,Z)：650×550×150mm 測定精度[μm]：XY:1.5+2.5L/1,000、1.5+L/150 L(mm)は測定長さ
利用対象	機器開放・依頼試験

平成20年度 整備機器

ICP発光分光分析装置

メーカー 型式	サーモフィッシャー サイエンティフィック株式会社 iCAP6300
装置概要	金属材料、樹脂、粉末試料中の微量元素測定
仕様	マルチ方式 多元素同時分析（ほとんど全ての元素に対応）
利用対象	依頼試験

波長分散型蛍光X線分析装置

メーカー 型式	株式会社リガク ZSX primusII
装置概要	鉄鋼試料の定量分析、非鉄金属、粉末試料等の定性分析
仕様	上面照射型 測定元素 Be～U
利用対象	機器開放・依頼試験

平成19年度 整備機器

原子吸光光度計

メーカー 型式	株式会社アナリティクイエナ ジャパン ZEEnit700
装置概要	金属材料中の元素測定
仕様	フレーム／ファーネス一体型 Mg,Al,K,Ca,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Pd,Ag,Cd,Sn,Pt,Au,Pb等 33元素に対応
利用対象	依頼試験

平成18年度 整備機器

炭素硫黄分析装置

メーカー 型式	株式会社堀場製作所 EMIA-920V
装置概要	鉄鋼や非鉄及び新素材中に含まれる炭素及び硫黄の測定
仕様	測定範囲： 炭素 0～6wt％ 硫黄 0～1wt％ （検出下限値は試料により異なります）
利用対象	機器開放・依頼試験

平成17年度 整備機器

水銀測定装置

メーカー 型式	日本インスツルメンツ株式会社 MA-2000システム
装置概要	金属、樹脂中の水銀測定
仕様	還元気化法 測定範囲：0.002ng～1000ng （本装置で測定する場合、マイクロウェーブでの試料分解が必要です）
利用対象	依頼試験