ページ番号：142926
掲載日：2019年10月1日
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組織試験
| 小分類 | 細目 | 単位 | 金額(円) | 問合先 （場所） |
|
|---|---|---|---|---|---|
| 光学顕微鏡による試験 | 前処理が不要なもの | 1試料1測定 | 1,030 |
川口 |
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| 前処理が不要なもの |
熊谷 |
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| 前処理が必要なもの | 1試料1測定 | 3,320 |
川口 |
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| 前処理が必要なもの |
熊谷 |
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| 走査型電子顕微鏡による試験(川口) | 1試料1測定 | 6,800 |
川口 |
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| 走査型電子顕微鏡による試験(熊谷) |
熊谷 |
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| 倍率10万倍以下 | 1試料1測定 | 13,300 |
川口 |
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| 倍率10万倍を超えるもの | 1試料1測定 | 20,200 | |||
| 集束イオンビーム加工観察装置による試験 | 1ヶ所 （10μm×10μm以内） |
28,300 | 1ヶ所（10μm×10μm以内）増すごとに17,000円を加える |
川口 |
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