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掲載日：2024年12月9日
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X線回折装置（XRD）による分析
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大分類／ 中分類 |
分析／機器分析 |
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| 試験の内容 |
試験内容 試料にX線を照射して得られるX線回折パターンをデータベースと照合し、試料に含まれる化合物の定性を行います。
主な測定試料 粉体、薄膜等
キーワード X線、X線回折、XRD、異物分析、定性、結晶構造、結晶化度、粉体、粉末、薄膜、フィルム、バルク |
| 成績書の内容 |
測定チャート |
| 試料持ち込み時の注意 | (1)粉末試料の場合は数gご用意ください。 バルク状、フィルム状の試料の場合は、厚さ1～20mmが望ましいです。 ※上記条件に合わない場合でも、測定可能な場合もありますので、ご相談ください。 (2)放射性物質、アスベスト等人体に影響を及ぼすおそれのある試料はお預かりできません。 |
| 単位 | 1試料1測定 |
| 金額 | 9,770円 |
| 装置外観 |  |
| 測定事例 |
白色粉末を測定し、ほう酸と特定することができました。 |
| 備考 |
主要構成元素が判明していると試料中の化合物を定性できる可能性が高まります。
この機器は、平成24年度公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）により整備しました。 |
| 本試験に関するお問合せ先 | 048-265-1380（材料技術・事業化支援室化学技術担当） |
※試験実施の有無について事前に確認、お問合せください。
※試料を加工、採取する前に、一度お問合せください。
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