分析走査電子顕微鏡(SEM-EDX)による分析 マッピング

試験の内容

固体試料表面の元素分布図（カラーマップ）作成。
真空環境で細く絞った電子線を固体試料表面に当てると元素ごとに固有のエネルギーを持つ特性X線が発生します。
発生した特性X線を分析することで各元素の分布図を取得する試験です。

主な測定試料

〇製品に混入した異物や付着物（構成元素の分析、素材との比較）
〇未知のめっき等のコーティングした製品（構成元素の分析）
〇めっき不良の製品（不良部で素材以外の元素の有無を分析）
〇変色や染みが見られる製品（変色部、染み部と通常部の元素を比較）
〇鋳物、ダイカストの鋳造不良製品（素材以外の元素を分析）
〇腐食した製品
※金属やセラミックスなどの無機物が対象です。液体は分析できません。
※近県（群馬県、栃木県、茨城県、東京都、千葉県、長野県、山梨県、新潟県、神奈川県、福島県等）

    のお客様もご利用いただいています。
 

キーワード

異物、欠け、変色、色むら、微小、ふくれ、割れ、鋳造欠陥、ピンホール、腐食

試料の形状によっては切断等の前処理をお願いする場合があります。詳しくは、担当者と相談してください。

                                              （本所）                                                                  （北部研究所）

※異なる装置で試験する場合もあります

【本所(川口市)】
電話 048-265-1369（材料技術・事業化支援室  材料技術担当）

【北部研究所(熊谷市)】

電話 048-521-0614（材料・機械技術担当）