X線マイクロアナライザによる分析 マッピング

試験内容

固体試料表面の元素分布図（カラーマップ）作成。

真空環境で細く絞った電子線を固体試料表面に当てると元素毎に固有のエネルギーを持つ特性X線が発生します。

電子線で試料の表面を走査しながら特性X線を分析することで指定した元素の分布図を取得する試験です。

※予めマッピング元素を指定する必要があります。

主な測定試料

• めっきやコーティングした製品（構成元素の分析）
• めっき不良の製品（不良部に素材以外の元素の有無を分析）
• 変色や染みが見られる製品（変色部、染み部と通常部の元素を比較）
• 鋳物、ダイカスト製品（試料断面で浸炭または窒化の深さを分析）
• 腐食した製品（硫黄、塩素など腐食を促す元素の有無を分析）

※金属やセラミックスなどの無機物が対象です。液体は分析できません。
※近県（群馬県、栃木県、茨城県、東京都、千葉県、長野県、山梨県、新潟県、神奈川県、福島県等）のお客様もご利用いただいています。

キーワード

微量元素、異物、欠け、変色、微小、メッキ、ふくれ、鋳造欠陥、溶接、腐食