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掲載日：2023年2月17日
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光電子分光装置による分析 マッピング
光電子分光装置は現在故障しており、試験受付を中止しております。
受付再開予定時期が決まりましたら、ホームページでご連絡いたします。
| 大分類／中分類 | 分析／機器分析 |
|---|---|
| 試験の内容 | 極表面の元素分布図。 |
| 成績書の内容 | カラー分布図 |
| 試料持ち込み時の注意 | 試料の形状により異なります。詳しくは、担当者と相談してください。 |
| 単位 | 1試料(5元素以内) |
| 金額 | 38,600円(1元素を増すごとに6,400円を加える) |
※詳しい試験内容や試料、測定条件等については、ご相談・お問い合わせください。
※試料を加工、採取する前に、一度お問い合わせください。
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