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掲載日：2024年3月31日
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表面観察機器
|
機器 No. |
機器名称 | 使用料 （円/h） |
連絡先 |
|---|---|---|---|
| 505 | 集束イオンビーム加工観察装置(FIB-SEM) | 5,920 | 川口 |
| 22-1 | 走査型電子顕微鏡(SEM) | 310 | 川口 |
| 21 | 光学顕微鏡（複合機能型）(倒立型金属顕微鏡) | 240 | 川口 |
| 27 | 光学顕微鏡（単機能型） | 90 | 川口 |
| 24 | 実体顕微鏡(低倍率デジタルマイクロスコープ) | 150 | 川口 |
| 25 | 試料研磨器 | 240 | 川口 |
| 26 | 切断・研磨器 | 130 | 川口 |
| 28 | 試料埋込器 | 140 | 川口 |
| 29 | イオンスパッタリング装置 | 110 | 川口 |
| 518 | デジタルマイクロスコープ | 550 | 川口 |
| 131 | 高感度微分干渉顕微鏡 | 170 | 熊谷 |
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